半導體

Semiconductor

  • 銅柱/銅塊外觀檢查機

    • 業界唯一可檢測極小圓銅柱Ø0.15mm x0.4mm產品。
    • 獨創專利無震動入料系統及特殊光學技術可精準判定產品缺陷及尺寸檢查。
    • 可依客戶需求，客製化外觀檢查設備。
  • 六面檢查可適用於多種產品 (Cu pilla銅柱/ 銅塊/ MLCC/ LTCC/ Chip-R/ LED/ 均熱片 等…)
  • 獨家專利無震動轉盤入料裝置，不造成產品刮傷受損
  • RGB全彩光學技術，精準檢出細微缺點
  • 兼容多種尺寸，尺寸切換容易且快速
  • 可選配AI智能學習檢測，更增加檢測精度
  • RGB全彩六面外觀、尺寸檢查
  • 影像自動光源調整Auto light
  • 檢查結果分析輸出
  • Golden Sample預檢功能
  • 生產資料數據上拋
  • AI智能學習檢測(option)
 
項目 規格
適用產品 Cu pillar銅柱/ 銅塊/ MLCC/ LTCC/ Chip-R/ LED/ 均熱片 等…
適用尺寸 圓柱形 Ø0.15~0.2mm x 0.4~0.46mm
檢查面 3面檢查 (直徑, 長度, 前後端面外觀)
檢查項目 尺寸、氧化、髒污、撞傷、坑洞等
照明 RGB全彩燈源
檢測系統 日本大廠檢測系統搭配CMOS高精度CCD及高速電腦
供給裝置 輸送帶搭配無震動轉盤入料(不刮傷晶片)
分料系統 良品/不良品1.2/未檢品(可加裝)